danДоклады Национальной академии наук БеларусиDoklady of the National Academy of Sciences of Belarus1561-83232524-2431The Republican Unitary Enterprise Publishing House "Belaruskaya Navuka"dan-102Research ArticleХИМИЯCHEMISTRYСТРУКТУРА И СВОЙСТВА ДИСПЕРСИЙ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ В ПОЛИЭТИЛЕНГЛИКОЛЕ-400STRUCTURE AND PROPERTIES OF THE DISPERSIONS OF SILICA IN POLYETHYLENE GLYCOL-400ПЛИСКОТ. В.PLISKOT. V.sumire-san@tut.byБИЛЬДЮКЕВИЧА. В.BILDYUKEVICHA. V.

академик

ЗЕЛЕНКОВСКИЙВ. М.ZELENKOVSKYV. M.Институт физико-органической химии НАН Беларуси, МинскBelarus2015010620165935155Copyright © ПЛИСКО Т.В., БИЛЬДЮКЕВИЧ А.В., ЗЕЛЕНКОВСКИЙ В.М., 20162016ПЛИСКО Т.В., БИЛЬДЮКЕВИЧ А.В., ЗЕЛЕНКОВСКИЙ В.М.PLISKO T.V., BILDYUKEVICH A.V., ZELENKOVSKY V.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.belnauka.by/jour/article/view/102

Квантовохимическим моделированием и спектроскопическими исследованиями дисперсии диоксида кремния в полиэтиленгликоле с Mn = 400 г ∙ моль–1 (ПЭГ-400) подтверждена возможность образования водородной связи между силанольной группой и эфирным атомом кислорода или концевой гидроксильной группой ПЭГ-400. Показано, что дисперсии SiO2 в ПЭГ-400 с концентрацией 0,5–3 % являются золями, а при повышении концентрации SiO2 имеет место золь–гель переход, что обуславливает различную устойчивость дисперсий к термокоагуляции в зависимости от концентрации.

The possibility of hydrogen bond formation between the silanol group and the oxygen atom of the ether group or the terminal hydroxyl group of polyethylene glycol (Mn = 400 g · mol–1, PEG-400) in the silica (aerosil) dispersions in PEG-400 was proved by quantum chemical simulation and IR-spectroscopy. The silica dispersions in PEG-400 over the concentration range of 0.5–3 % were found to be sols, but with increasing the silica concentration the sol–gel transition was shown to occur that yields different thermocoagulation stability of the dispersions depending on the silica concentration.

ReferencesRaghavan S. R. et al. // Langmuir. 2000. Vol. 16. P. 7920–7930.Raghavan S. R. et al. // Langmuir. 2000. Vol. 16. P. 7920–7930.Jun Hou et al. // Langmuir. 2000. Vol. 16. P. 1066–1077.Jun Hou et al. // Langmuir. 2000. Vol. 16. P. 1066–1077.Walls H. J. et al. // J. of Power Sources. 2000. Vol. 89. P. 156–162.Walls H. J. et al. // J. of Power Sources. 2000. Vol. 89. P. 156–162.Zheng Q.-Zh., Wang P., Yang Y.-N. // J. Memb. Sci. 2006. Vol. 279. P. 230–237.Zheng Q.-Zh., Wang P., Yang Y.-N. // J. Memb. Sci. 2006. Vol. 279. P. 230–237.Kawaguchi M., Yamamoto T., Kato T. // J. Colloid Interface Sci. 2001. Vol. 241. P. 293–295.Kawaguchi M., Yamamoto T., Kato T. // J. Colloid Interface Sci. 2001. Vol. 241. P. 293–295.Voronin E. F. et al. // J. Colloid Interface Sci. 2004. Vol. 279. P. 326–340.Voronin E. F. et al. // J. Colloid Interface Sci. 2004. Vol. 279. P. 326–340.Esumi K., Iitaka M., Koide Y. // J. Colloid Interface Sci. 1998. Vol. 208. P. 178–182.Esumi K., Iitaka M., Koide Y. // J. Colloid Interface Sci. 1998. Vol. 208. P. 178–182.Wisniewska M., Szewczuk-Karpisz K., Ostolska I. // Fluid Phase Equilibria. 2013. Vol. 360. P. 10–15.Wisniewska M., Szewczuk-Karpisz K., Ostolska I. // Fluid Phase Equilibria. 2013. Vol. 360. P. 10–15.Khavryuchenko D., Sheka E. F. // J. of Structural Chemistry. 1994. Vol. 35, N 3. P. 291–298.Khavryuchenko D., Sheka E. F. // J. of Structural Chemistry. 1994. Vol. 35, N 3. P. 291–298.Schmidt M. W. et al. // J. Comp. Chem. 1993. Vol. 14. P. 1347–1363.Schmidt M. W. et al. // J. Comp. Chem. 1993. Vol. 14. P. 1347–1363.Немухин А. В., Григоренко Б. Л., Грановский А. А. // Вестн. Моск. гос. ун-та. Химия. 2004. Т. 45. С. 75–102.Немухин А. В., Григоренко Б. Л., Грановский А. А. // Вестн. Моск. гос. ун-та. Химия. 2004. Т. 45. С. 75–102.Suenaga M. // J. of Computer Chemistry, Japan. 2005. Vol. 4, N 1. P. 25–32.Suenaga M. // J. of Computer Chemistry, Japan. 2005. Vol. 4, N 1. P. 25–32.Suenaga M. // J. of Computer Chemistry, Japan. 2008. Vol. 7, N 1. P. 33–53.Suenaga M. // J. of Computer Chemistry, Japan. 2008. Vol. 7, N 1. P. 33–53.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.