Математическую модель деградации функционального параметра в виде условной плотности его распределения для заданной наработки предлагается получать на основе трёхпараметрического распределения Вейбулла–Гнеденко, что обеспечивает меньшие ошибки прогнозирования параметрической надёжности выборок ИЭТ, нежели модель деградации, построенная с учётом гипотезы о нормальном законе распределения функционального параметра.
The authors offer to get a mathematical model of degradation of a functional parameter in the form of the conditional density of its distribution for a given operating time on the basis of the three-parameter Weibull-Gnedenko distribution. This provides prediction errors of reliability for samples of electronic devices, which are smaller than the errors after using the degradation model on the basis of a normal distribution of the functional parameter.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.