Влияние жесткости и добротности зонда на характеристики его колебаний в динамическом режиме работы атомно-силового микроскопа
https://doi.org/10.29235/1561-8323-2024-68-6-513-518
Аннотация
В работе приведены результаты математического моделирования динамической атомно-силовой микроскопии (АСМ). Исследовано влияние жесткости и добротности АСМ-зонда на амплитуду, сдвиг фазы колебаний его острия в режиме полуконтактного взаимодействия с поверхностью материала. Рассчитаны глубины деформирования материала зондом. Также показано влияние амплитуды колебаний пьезогенератора, вынуждающего зонд осциллировать, на характеристики колебаний зонда.
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия,
АСМ,
динамический режим,
зонд,
колебания,
модель Джонсона–Кенделла–Робертса,
жесткость зонда,
добротность зонда,
амплитуда колебаний пьезогенератора,
глубина деформирования материала
При поддержке: Работа выполнена в рамках задания 3.03.3 ГПНИ «Конвергенция–2025» на 2021–2025 гг.
Об авторах
С. О. Абетковская
Институт тепло- и массообмена имени А. В. Лыкова Национальной академии наук Беларуси
Беларусь
Беларусь
Абетковская Светлана Олеговна – научный сотрудник
ул. П. Бровки, 15, 220072, Минск
С. А. Чижик
Институт тепло- и массообмена имени А. В. Лыкова Национальной академии наук Беларуси
Беларусь
Беларусь
Чижик Сергей Антонович – академик, д-р техн. наук, профессор, заведующий отделением
ул. П. Бровки, 15, 220072, Минск
Список литературы
1. Probes by “NT-MDT”. Available at: https://ntmdt-russia.com/products/probes/ (accessed 5 September 2024) (in Russian).
2. AFM probes and accessories. Tipsnano. Available at: https://tipsnano.com/ (accessed 5 September 2024).
3. AFM Probes, Tips and Cantilevers. Bruker. Available at: https://www.brukerafmprobes.com/ (accessed 5 September 2024).
4. AFM tips catalog. OPUS. Available at: https://www.opustips.com/afm-tips-catalog (accessed 5 September 2024).
5. TED PELLA, Inc. Microscopy products for science and industry. Available at: https://www.tedpella.com/probes_html/ budgetsensors.aspx (accessed 5 September 2024).
6. AFM tips catalog. Available at: https://www.nanosensors.com/afm-tips-catalog (accessed 5 September 2024).
7. García R., Pérez P. Dynamic atomic force microscopy methods. Surface Science Reports, 2002, vol. 47, no. 6–8, pp. 197–301. https://doi.org/10.1016/s0167-5729(02)00077-8
8. Abetkovskaia S. О., Laktushina Т. V., Chizhik S. А. Optimization of probes operating parameters in dynamic semicontact atomic force microscopy. Teplo- i massoperenos – 2013: sbornik nauchnykh trudov [Heat and mass transfer – 2013: scientific papers]. Minsk, 2013, pp. 250–264 (in Russian).
9. Abetkovskaia S. О., Chizhik S. А. Dynamic force spectroscopy of “soft” materials. Teplo- i massoperenos – 2007: sbornik nauchnykh trudov [Heat and mass transfer – 2007: scientific papers]. Minsk, 2007, pp. 323–330 (in Russian).
10. Johnson К. Mechanics of contact interaction: translation from English. Мoscow, 1989. 510 p. (in Russian).
Рецензия
Просмотров: 35
Послать статью по эл. почте 