Математическую модель деградации функционального параметра в виде условной плотности его распределения для заданной наработки предлагается получать на основе трёхпараметрического распределения Вейбулла–Гнеденко, что обеспечивает меньшие ошибки прогнозирования параметрической надёжности выборок ИЭТ, нежели модель деградации, построенная с учётом гипотезы о нормальном законе распределения функционального параметра.

1. Coit D. W., Evans J. L., Vogt N. T., Thomson J. R. // Quality and Reliability Engineering International. 2005. N 21. P. 715–726.

2. Боровиков С. М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадёжных изделий электронной техники. М., 2013.

3. Боровиков С. М., Шалак А. В., Бересневич А. И., Емельянов А. В. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105–109.

4. Боровиков С. М., Шалак А. В., Бересневич А. И. и др. // Докл. БГУИР: электроника, материалы, технологии, информатика. 2008. № 6 (36). С. 32–39.

5. Вадзинский Р. Н. Справочник по вероятностным распределениям. СПб., 2001.

6. Физические основы надёжности интегральных схем / Под ред. Ю. Г. Миллера. М., 1976.

7. Прикладная статистика: Правила определения оценок и доверительных границ для параметров распределения Вейбулла: ГОСТ 11.007–75. М., 1980.

8. Peattie D. S., Adams J. D., Carreli S. L. et al. // Proc. IEEE. 1974. Vol. 62, N 2. P. 149–168.

9. Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998.

10. Reliability Audit Report 1999. Life Test Data. ON Semiconductor L. L. C., Formerly a Division of Motorola, 1999.