Preview

Доклады Национальной академии наук Беларуси

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 62, № 5 (2018) Фото- и электролюминесценция структур оксид-нитрид-оксид-кремний для применения в кремниевой оптоэлектронике Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. А. Романов, Л. А. Власукова, Ф. Ф. Комаров, И. Н. Пархоменко, Н. С. Ковальчук, М. А. Моховиков, А. В. Мудрый, О. В. Мильчанин
"... Oxide-nitride-oxide-silicon (SiO2/SiN0.9/SiO2/Si) structures have been fabricated by chemical ..."
 
Том 64, № 2 (2020) Структурно-фазовые переходы в системе Pt–Si при быстрой термообработке Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. А. Пилипенко, Ф. Ф. Комаров, В. А. Солодуха, В. А. Горушко
"... as the material of the low-Ohm contacts and interconnections of metallization of the silicon integrated circuits ..."
 
Том 68, № 2 (2024) Гипердопирование кремния с помощью имплантации ионов селена и марганца и импульсного лазерного отжига Аннотация  похожие документы
Тин Ван, Ф. Ф. Комаров, И. Н. Пархоменко, Гофэн Ян, Цзюньцзюнь Сюэ
"... (Mn+Se)implanted silicon layers was studied. 95 keV Mn+ and 200 keV Se+ ions were implanted separately ..."
 
Том 65, № 2 (2021) Процессы деградации электролюминесценции светоизлучающих структур на основе тонких пленок оксида и нитрида кремния Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. А. Романов, Ф. Ф. Комаров, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, Н. С. Ковальчук
"... vapor deposition and thermal oxidation of silicon. The elemental composition and thicknesses ..."
 
Том 64, № 4 (2020) Мемристорная структура с эффектом переключения сопротивления на основе тонких пленок нитрида кремния Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Ф. Ф. Комаров, И. А. Романов, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, А. А. Цивако, Н. С. Ковальчук
"... structure were studied. A silicon nitride film with a thickness of ~200 nm with an inhomogeneous element ..."
 
Том 69, № 1 (2025) Механизмы резистивного переключения в мемристорах на основе слоев нестехиометрического нитрида кремния Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. А. Романов, Н. С. Ковальчук, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, Ф. Ф. Комаров, С. А. Демидович
"... structure are investigated. Silicon nitride films with a thickness of ~40–60 nm were deposited ..."
 
Том 64, № 3 (2020) Структурные и оптические свойства оксида кремния, имплантированного ионами цинка: влияние степени пересыщения и термообработки Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
М. А. Моховиков, О. В. Мильчанин, И. Н. Пархоменко, Ф. Ф. Комаров, Л. А. Власукова, Д. С. Королев, А. В. Мудрый, В. Д. Живулько, Арно Янсе ван Вуурен
 
1 - 7 из 7 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)