Сортировать по:
Выпуск | Название | |
Том 62, № 5 (2018) | Фото- и электролюминесценция структур оксид-нитрид-оксид-кремний для применения в кремниевой оптоэлектронике | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. А. Романов, Л. А. Власукова, Ф. Ф. Комаров, И. Н. Пархоменко, Н. С. Ковальчук, М. А. Моховиков, А. В. Мудрый, О. В. Мильчанин | ||
"... Oxide-nitride-oxide-silicon (SiO2/SiN0.9/SiO2/Si) structures have been fabricated by chemical ..." | ||
Том 64, № 2 (2020) | Структурно-фазовые переходы в системе Pt–Si при быстрой термообработке | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. А. Пилипенко, Ф. Ф. Комаров, В. А. Солодуха, В. А. Горушко | ||
"... as the material of the low-Ohm contacts and interconnections of metallization of the silicon integrated circuits ..." | ||
Том 68, № 2 (2024) | Гипердопирование кремния с помощью имплантации ионов селена и марганца и импульсного лазерного отжига | Аннотация похожие документы |
Тин Ван, Ф. Ф. Комаров, И. Н. Пархоменко, Гофэн Ян, Цзюньцзюнь Сюэ | ||
"... (Mn+Se)implanted silicon layers was studied. 95 keV Mn+ and 200 keV Se+ ions were implanted separately ..." | ||
Том 65, № 2 (2021) | Процессы деградации электролюминесценции светоизлучающих структур на основе тонких пленок оксида и нитрида кремния | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. А. Романов, Ф. Ф. Комаров, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, Н. С. Ковальчук | ||
"... vapor deposition and thermal oxidation of silicon. The elemental composition and thicknesses ..." | ||
Том 64, № 4 (2020) | Мемристорная структура с эффектом переключения сопротивления на основе тонких пленок нитрида кремния | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Ф. Ф. Комаров, И. А. Романов, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, А. А. Цивако, Н. С. Ковальчук | ||
"... structure were studied. A silicon nitride film with a thickness of ~200 nm with an inhomogeneous element ..." | ||
Том 69, № 1 (2025) | Механизмы резистивного переключения в мемристорах на основе слоев нестехиометрического нитрида кремния | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
И. А. Романов, Н. С. Ковальчук, Л. А. Власукова, И. Н. Пархоменко, Ф. Ф. Комаров, С. А. Демидович | ||
"... structure are investigated. Silicon nitride films with a thickness of ~40–60 nm were deposited ..." | ||
Том 64, № 3 (2020) | Структурные и оптические свойства оксида кремния, имплантированного ионами цинка: влияние степени пересыщения и термообработки | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
М. А. Моховиков, О. В. Мильчанин, И. Н. Пархоменко, Ф. Ф. Комаров, Л. А. Власукова, Д. С. Королев, А. В. Мудрый, В. Д. Живулько, Арно Янсе ван Вуурен | ||
1 - 7 из 7 результатов |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)